一：X熒光元素分析儀的干擾因素： 1、是一種比較新型的可以對(duì)多元素進(jìn)行快速同時(shí)測(cè)定的儀器。在X射線激發(fā)下，被測(cè)元素原子的內(nèi)層電子發(fā)生能級(jí)躍遷而發(fā)出次級(jí)X射線。
2、X射線是一種波長(zhǎng)較短的電磁輻射，通常是指能量范圍在標(biāo)準(zhǔn)keV的光子。X射線與物質(zhì)的相互作用主要有熒光、吸收和散射三種。
3、熒光元素分析儀的原理基于原子受到X射線的作用，其內(nèi)層電子被激發(fā)，形成空穴，原子處于不穩(wěn)定的激發(fā)態(tài)。
4、為了回到穩(wěn)態(tài)，原子的外層電子會(huì)躍遷回內(nèi)層，多余的能量以熒光形式釋放出來，被偵測(cè)器檢測(cè)到，通過此來做分析。通常，可以將熒光元素分析儀可分為波長(zhǎng)色散性和能量色散性。
5、X熒光元素分析儀在日常的分析工作中，XRF這種分析方法經(jīng)常會(huì)出現(xiàn)共元素干擾。這種共元素干擾的問題主要起源于X熒光射線偵測(cè)器對(duì)于X熒光射線的分辨率的限制所致，只要是XRF都會(huì)遭遇到相同的問題。共元素干擾主要分為三類：兩相近共元素干擾、逃離波峰、加乘波峰。
6、兩相近共元素干擾：由于兩元素在能譜圖上的位置相近，以至于偵測(cè)器無(wú)法分別出兩者之間的差距。
7、逃離波峰：由于某元素的濃度異常高，此時(shí)發(fā)出大量X熒光射線，而偵測(cè)器無(wú)法及時(shí)處理，將在此元素的能譜位置前一個(gè)硅Ka的能譜距離多出一根小波峰而造成誤判，但情形極少出現(xiàn)。
8、加乘波峰：由于某元素的濃度異常高，此時(shí)發(fā)出大量X熒光射線，而偵測(cè)器無(wú)法及時(shí)處理，將在能譜兩倍的位置上出現(xiàn)一根波峰。
9、中文菜單，操作簡(jiǎn)便。預(yù)熱速度快，開機(jī)時(shí)間短。
10、采用物理分析方法，分析中不接觸、不破壞樣品，無(wú)需化學(xué)試劑。
11、儀器高度集成化，具有強(qiáng)大的環(huán)境適應(yīng)能力和抗干擾能力。
總結(jié)：X熒光元素分析儀的使用因素小編就分享到這了，看完本文您就應(yīng)該有了基本的認(rèn)識(shí)和了解相信大家都明白了吧！總的來說，希望對(duì)大家有所幫助。
